Oxygen precipitation studied by x-ray diffraction techniques

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Středoevropský technologický institut. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	MEDUŇA Mojmír CAHA Ondřej RŮŽIČKA Jiří BERNATOVÁ Silvie SVOBODA Milan BURŠÍK Jiří
Rok publikování	2011
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Solid State Phenomena
Fakulta / Pracoviště MU	Středoevropský technologický institut
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	Czochralski silicon; oxygen precipitates; x-ray Laue diffraction
Popis	Cílem práce bylo studium kyslíkových precipitátů vyrostlých uvnitř desek Czochralského křemíku pomocí rtg difrakce v Braggově a Laueho geometrii na průchod.
Související projekty:	Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur Nukleace a růst kyslíkových precipiátů v křemíku Řízení elastického napětí v magnetických polovodičích Struktura, elektronová struktura a optická odezva pokročilých materiálů CEITEC - středoevropský technologický institut