Úplná optická charakterizace neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev pomocí víceúhlové elipsometrie

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	OHLÍDAL Ivan
Rok publikování	1999
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Jemná mechanika a optika
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Optika, masery a lasery
Popis	V této práci je popsána elipsometrická metoda umožňující určit hodnoty všech optických parametrů, tj. hodnoty indexů lomu a tlouštěk, neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev umístěných na absorbujících podložkách.
Související projekty:	Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod