Structural characterization of self-assembled Ge dot multilayers by x-ray diffraction and reflectivity methods

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	DARHUBER A.A. HOLÝ Václav SCHITTENHELM P. STANGL J. KEGEL I. KOVATS Z. METZGER T.H. BAUER G. ABSTREITER G. GRUEBEL G.
Rok publikování	1998
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Physica E 2
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	multilayers by x-ray
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur