X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	PLOTZ W. HOLÝ Václav
Rok publikování	1994
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	J. Phys. III France 4
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur