X-ray scattering study of oxide precipitates in Cz-Si
| Název česky | Studie rtg rozptylu na kyslíkových precipitátech v CZ Si |
|---|---|
| Autoři | |
| Rok publikování | 2010 |
| Druh | Konferenční abstrakty |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Popis | Dvě difrakční metody byly použity pro charakterizaci kyslíkových precipitátů v sérii vzorků CZ křemíku. |
| Související projekty: |