Homogenization of CZ Si wafers by Tabula Rasa annealing
| Název česky | Homogenizace CZ Si desek pomocí žíhání Tabula Rasa |
|---|---|
| Autoři | |
| Rok publikování | 2009 |
| Druh | Konferenční abstrakty |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Popis | Rozdíly v precipitaci kyslíku, morfologie precipitátů a vývoj bodových defektů byly studovány pomocí experimentálních technik jako jsou infračervená absorpce, transmisní elektronová mikroskopie, leptací techniky a rtg difrakce. |
| Související projekty: |