Characterization of near field optical microscope probes

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Charakterizace sond do mikroskopu blízkého pole
Autoři	KLAPETEK Petr VALTR Miroslav KLENOVSKÝ Petr BURŠÍK Jiří
Rok publikování	2008
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Surface and Interface Analysis
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Optika, masery a lasery
Klíčová slova	near field scanning optical microscopy;image artefacts;optical analysis
Popis	In this article the far-field radiation analysis of near-field optical probes is presented. It is shown that the quality of probes used for near-field scanning microscopy imaging can be estimated using directional measurements of the far-field radiation patterns. Experimental results are compared with numerical modeling of far-field radiation performed using finite difference in time-domain method (FDTD) and with SEM characterization of real probe geometry. The effects of probe geometry on real measurement on different samples are studied as well.
Související projekty:	Analýza optických vlastností solárních článků