X-ray microdiffraction imaging investigations of wing tilt in epitaxially overgrown GaN

• Název česky: Studium rozorientace křídel laterálně přerostlých GaN rtg mikrodifrakčním zobrazováním
• Autoři: LÜBBERT D.; MIKULÍK Petr; PERNOT P.; HELFEN L.; CRAVEN M.D.; KELLER S.; DENBAARS S.; BAUMBACH T.
• Rok publikování: 2006
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Physica stat.sol.(a)
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• www: http://www.sci.muni.cz/~mikulik/Publications.html#LubbertMikulikPernot-pssa-2006
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: lattice tilt; diffraction; X-ray diffraction; GaN; ELO
• Popis: Krystalová kvalita v epitaxně přerostlých (ELO) GaN vrstvách a velikost rozorientace křídel jsou charakterizovány lokálně, s vysokým prostorovým i úhlovým rozlišením. K tomu jsme použili metodu plného zobrazení rtg mikrodifrakčním zobrazením, též zvaného rocking curve imaging (RCI). ELO okna a křídla mohou být jasně separována; srovnání ukazuje na zlepšení krystalinity faktorem 3–4 díky procesu laterálního přerostení.

Související projekty

• Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur