X-ray reflectivity analysis of thin complex Langmuir-Blodgett films

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Analýza tenkých složitých Langmuir-Blodgettových filmů rtg reflektivitou
Autoři	POLOUČEK Pavel PIETSCH U. GEUE T. SYMIETZ C. BREZESINSKI G.
Rok publikování	2001
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Journal of physics D: Applied physics
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	x-ray reflectivity; xrr; thin film; langmuir-blodgett films; density
Popis	Metoda rtg reflektivity byla použita pro studium struktury Langmuir-Blodgettových filmů na bázi PDADMAC - lipid (DPPA).
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur