Effect of Structural Imperfections on the Characteristics of YSZ Dielectric Layers Grown by E-beam Evaporation fron the Crystalline Taggets

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Pedagogickou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Vliv strukturních nedokonalostí na charakteristiky YSZ dielektrických vrstev
Autoři	HARTMANNOVÁ Mária JERGEL Martin NAVRÁTIL Vladislav NAVRÁTIL Karel GMUCOVÁ Katarina GANDARILLA F.C. ZEMEK Jan CHROMIK Stefan KUNDRACIK Frantiaek
Rok publikování	2005
Druh	Článek ve sborníku
Konference	Acta Physica Slovaca
Fakulta / Pracoviště MU	Pedagogická fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	Yttria stabilized zirconia; thin films; electrical conductivity; microhardness; refractive index; relative permitivity
Popis	Merene vrstvicky byly deponovany pomoci e-beam vyparovani na yttriem stabilizovanych zirkoniovych vzorcich na n-dopovanem Si (111) pri teplote 750 C. Mereni elektricke vodivosti a aktivacni energie v zavislosti na koncentraci yttria ukazuje na pritomnost izolovanych kyslikovych iontovych vakanci a s tim spojenych bodovych poruch. Vyledky mereni mechanickych resp. optickych vlastnosti (mikrotvrdost),resp. index lomu ukazuji na vhodnost vyuziti vrstvicek pro ochranné ucely.
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek