Structural investigations on self-organized Si/SiGe islands by grazing incidence small angle x-ray scattering

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	ROCH T. STANGL J HOLY V. BAUER G
Rok publikování	2001
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	physica status solidi (b)
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	grazing incidence diffraction
Popis	Structural investigations on self-organized Si/SiGe islands by grazing incidence small angle x-ray scattering
Související projekty:	Laboratoř tenkých vrstev a nanostruktur Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur