X-ray reflection from self-organized interfaces in an SiGe/Si multilayer

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	GRIM Jan HOLÝ Václav KUBĚNA Josef DARHUBER A.A. ZERLAUTH S. BAUER G.
Rok publikování	1999
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Semicond. Sci. Technol.
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur