Structural characterization of self-assembled quantum dot structures by X-ray diffraction techniques
| Autoři | |
|---|---|
| Rok publikování | 1997 |
| Druh | Článek v odborném periodiku |
| Časopis / Zdroj | Thin Solid Films |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Související projekty: |