Spektrální elipsometrická charakterizace tenkých epitaxních vrstev Si_(1-x)Ge_x
| Autoři | |
|---|---|
| Rok publikování | 1994 |
| Druh | Kapitola v knize |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Související projekty: |
| Autoři | |
|---|---|
| Rok publikování | 1994 |
| Druh | Kapitola v knize |
| Fakulta / Pracoviště MU | |
| Citace | |
| Související projekty: |