Landau level spectroscopy of Bi2Te3

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Ústav výpočetní techniky, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

MOHELSKÝ I. DUBROKA Adam WYZULA J. SLOBODENIUK A. MARTINEZ G. KRUPKO Y. PIOT B. A. CAHA Ondřej HUMLÍČEK Josef BAUER G. SPRINGHOLZ G. ORLITA M.

Rok publikování 2020
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj PHYSICAL REVIEW B
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www https://doi.org/10.1103/PhysRevB.102.085201
Doi http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.102.085201
Klíčová slova BISMUTH TELLURIDE; TOPOLOGICAL INSULATORS; THERMOELECTRIC PROPERTIES; CONDUCTION ELECTRONS; OPTICAL-PROPERTIES; VALENCE-BAND; BI2SE3; SB2TE3; ABSORPTION; RESONANCE
Popis Here we report on Landau level spectroscopy in magnetic fields up to 34 T performed on a thin film of the topological insulator Bi2Te3 epitaxially grown on a BaF2 substrate. The observed response is consistent with the picture of a direct-gap semiconductor in which charge carriers closely resemble massive Dirac particles. The fundamental band gap reaches E-g = (175 +/- 5) meV at low temperatures and it is not located on the trigonal axis, thus displaying either sixfold or twelvefold valley degeneracy. Interestingly, our magneto-optical data do not indicate any band inversion at the direct gap. This suggests that the fundamental band gap is relatively distant from the Gamma point where profound inversion exists and gives rise to the relativisticlike surface states of Bi2Te3.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.

Další info